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              什么是相控陣檢測?

              時間:2023-9-29 3:00:00來源:http://www.liuzhiyong.xyz/news977067.html

              相控陣檢測是一種無損檢測技術。今天我們主要介紹相控陣測試的延伸,相控陣測試。

              相控陣檢測本身的設計主要涉及幅值、相位分布和單元阻抗的設計。陣列的大小由波束寬度最窄時的寬度值和旁瓣電平決定。相位分布主要由光束要求決定。由于單元方向圖和阻抗的限制,平面相控陣的最大掃描范圍通常為±60°的錐形,通過增加球面透鏡也可以獲得半球形掃描。

              如果只需要方向圖的最大值在空間中移動(掃描),則只需要形成線性變化的相位分布。在這一點上,方向圖的最大方向垂直于等相平面。使用數字移相器時,除了少數特殊角度外,一般不能得到精確的線性相位分布。此時,寄生旁瓣可能出現在定向圖的某些方向上,其大小與具體的相位分布圖有關。為了滿足特殊要求,需要采用定向方向圖合成方法提前計算出所需的陣列相位分布。例如,可以將陣列劃分為幾個區域,每個區域可以視為一個獨立的陣列,從而設計該陣列的方向圖。這可以導致多個波束同時存在于空間中,或者可以使用特殊的相位分布來擴大方向圖或形成余割平方方向圖。

              為了簡化饋電結構,有些相控陣天線的幅值是相等的。為了克服振幅分布一定時副瓣電平高的缺點,可以采用密度加權,即陣列表面有源輻射單元的分布是不均勻的,其分布密度按一定的規律變化。將無饋源輻射單元放置在主動輻射單元的邊緣,改善輻射單元的阻抗特性。

              相控陣天線中的輻射單元數量較多,失效單元數量在5%以下時,對天線陣列性能的影響不顯著,可靠性高。

              在雷達中采用相控陣天線后,波束控制的靈活性大大提高,因此可以制成多功能雷達,使一個雷達可以充當多個傳統雷達。隨著微波集成電路技術的發展和新型移相器的出現,相控陣天線的成本不斷降低,體積越來越小,重量也在進一步減輕。


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